Çok Fonksiyonlu Test Sistemi CATE-256FI

CATE-256FI test sistemi, elektronik kartlar, sistem birimleri ve mekatronik test nesneleri için fonksiyon testi ve devre içi test (MDA) amacıyla tasarlanmıştır. Kurulum, uygulama gereksinimlerine göre bireysel olarak yapılandırılan NI PXI modüllerine dayanmaktadır. Modüler yapısı sayesinde hızlı ve maliyet etkin genişletmeler gerçekleştirilebilir. Sistem, bağımsız veya hat içi versiyon olarak mevcuttur. Temel Konfigürasyon: • 19” Rack, 50HE, IP55 • 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot • PXI - RT Gömülü Kontrolör • PPSU Programlanabilir Gerilim Kaynağı • PSU Sabit Gerilim Kaynağı • PXI – DMM 7½ Basamaklı • PXI – Fonksiyon Jeneratörü • PXI – Analog Kart • PXI – Dijital G/Ç paralel • PXI – Röle Matrisi • PXI – Röle 4x1 MUX • G12 Virginia Panel Test Nesnesi Arayüzü Yüksek Seviye Uygulamalar: Uygun bir konfigürasyon ile test sistemi, havacılık mühendisliği alanında da kullanılabilir ve böylece en yüksek standartlara da cevap verebilir.