Ntegra Marlin - Özellikler

AFMSICMRaman güçlü nano karakterizasyon tekniklerinin üçlü sinerjisi Hopping mod iyon iletkenliği mikroskobu Canlı hücrelerin ve jel yüzeylerinin temasız görüntülenmesi AFM ve SICM'nin nicel nanomekanik çalışmaları için QNM gücü Akıllı Patch Clamp otomatik nanopipet hedefleme ile iyon kanal çalışmaları Yüksek Hızlı Uzun Menzilli Yüksek Çözünürlüklü nanoskalada haritalama SICM geri bildirim kontrolü ile nanoinjeksiyon nanopipetleri kullanılabilir tek hücrelere yerel alt-pikolitre enjeksiyonları için SICM (Tarayıcı İyon İletkenliği Mikroskobu), yüksek çözünürlükte temasız 3D yüzey haritalaması için nanopipet (keskin cam elektrot) kullanan bir SPM tekniğidir. SICM'de, prob ile örnek arasındaki mesafe, uca yaklaşırken akan iyon akımının azalması ile kontrol edilir. Biophys.Journ. 73, 653658 Pozisyon kontrolü: X, Y, Z eksenlerinde kapasitif kapalı döngü sensörler XY hareket aralığı: 30×30 μm (isteğe bağlı olarak 100×100 μm'ye kadar) Z hareket aralığı: 25 μm Z pozisyon doğruluğu: 0.1 nm Uygulamalar: SICM (Hopping modu), SECM, Akıllı Patch-Clamp, Mikroenjeksiyon, QNM, pH haritalama Tipik görüntü edinim süresi: 5 dakikadan az (nokta sayısına ve örnek pürüzlülüğüne bağlı) Yüksek performanslı düşük gürültülü AFM: Z gürültüsü <0.1 nm (10-1000 Hz bant genişliğinde RMS) AFM Uygulamaları: tüm standart AFM görüntüleme modları (40+), Kuvvet-mesafe spektroskopisi Difraksiyon sınırlı mekansal çözünürlük: XY'de <200 nm, Z'de <500 nm (batırma objektifi ile) Ultra yüksek dağılım ile Echelle ızgarası; spektral çözünürlük: 0.007 nm (<0.1 cm-1) AFM/SICM ile aynı anda en yüksek çözünürlük optikleri kullanılır: 1.45 NA'ya kadar Çift tarama: örnek ile tarama VE lazer noktası ile tarama (TERS'te Sıcak Nokta haritalama için)