jeprc kinolog 35 için ürünler (10)

Optocontrol 2520 - Optik hassas mikrometre

Optocontrol 2520 - Optik hassas mikrometre

optoCONTROL 2520, entegre kontrolcüye sahip kompakt bir lazer mikrometredir. 46 mm ve 95 mm ölçüm aralıklarına sahip yüksek çözünürlüklü model varyantı ve değişken montaj mesafeleri, kalite izleme ve üretim kontrolü alanında geniş bir uygulama yelpazesi sunar. Ölçüm nesnesi, ışık perdesi içinde herhangi bir konuma yerleştirilebilir ve verici ile alıcı arasındaki mesafe serbestçe seçilebilir.
modusAOI MCS18/42-offline - Çevrimdışı kamera muayenesi

modusAOI MCS18/42-offline - Çevrimdışı kamera muayenesi

Yeni bağımsız kamera sistemi ile optik inceleme, çeşitli üretim süreçlerinin uygun maliyetli ve esnek bir şekilde test edilmesini sağlar. Yüksek çözünürlüklü sistem kamerası (18/42 megapiksel) ile yapılan inceleme, profesyonel mod AOI yazılımını çalıştıran bir Microsoft Windows tabanlı bilgisayar tarafından kontrol edilmekte ve analiz edilmektedir. Özellikler - Offline uygulama içinde nesnelerin incelenmesi için tek sistem (Tek Parça Akışı). - SMD-THT-UV, bağlantı incelemesi ve lazer lehim incelemesi gibi çeşitli inceleme görevlerinin kombinasyonu. - Tipik testler arasında mekanik montajın onaylanması, fişlerin, etiketlerin, sabitlemelerin varlığı, yerleşimi ve yönü, barkodların ve veri matris kodlarının okunması yer almaktadır.
Leica DMS300 - Dijital Mikroskop Sistemi

Leica DMS300 - Dijital Mikroskop Sistemi

Leica DMS300, gözlük yerine HDMI monitör kullanan tam bir dijital mikroskop sistemidir. Leica'nın yüksek kaliteli 8:1 zoom optikleri, 30fps'ye kadar tam yüksek tanımlı canlı görüntü sağlayan 2.5MP kamera ile birleştirilmiştir. Leica DMS300, bağımsız bir sistem olarak yüksek kaliteli, tam renkli sabit görüntüler ve Full-HD filmler üretmektedir. DMS300'ün tüm ana fonksiyonları kablosuz uzaktan kumanda ile kontrol edilmektedir. Ayrıca, Leica yazılımı LAS EZ ile tam uyumluluk sunan bir bilgisayara bağlanabilir. Çift canlı video akışı, HDMI arayüzüne sahip bir HD monitör veya HD projektör gibi ikinci bir görüntüleme cihazına ve bir PC'ye aynı anda çıkış yapılmasını sağlar.
LIBS Spektrometreli Mikroskoplar - DM6 M LIBS Mikro Yapı Kompozisyon Analiz Çözümü

LIBS Spektrometreli Mikroskoplar - DM6 M LIBS Mikro Yapı Kompozisyon Analiz Çözümü

Görsel olarak inceleyin ve kimyasal olarak analiz edin, LIBS DM6 M malzeme analiz çözümünüzle tek bir çalışma adımında. Entegre lazer spektroskopisi fonksiyonu, mikroskop görüntüsünde gördüğünüz mikro yapının kimyasal bileşimini - bir saniyede - sağlar. İş akışınızı hızlandırın. LIBS modülü, bir optik mikroskobu Leica'dan, görsel inceleme ve kimyasal analizi doğrudan çalışma alanınızda birleştiren tek adımlı bir çözüme dönüştürür. Görsel olarak tanımladığınız şeyin bileşimini birkaç saniye içinde belirleyin. SLP'yi kullanarak, malzeme analizlerini SEM/EDS ile yapılan incelemelerden %90 daha hızlı gerçekleştirin. Yüzey kontaminasyonu veya kaplamalar da kolayca çıkarılabilir. Kimyasal haritalama ve mikro delme, diğer analitik adımlardır.
GIDA BİLİMLERİ MERKEZİ İLE İŞBİRLİĞİ

GIDA BİLİMLERİ MERKEZİ İLE İŞBİRLİĞİ

Ev yapımı tariflerden ilham alan menülerimizin fikirleri, Gıda ve Fermentasyon Teknolojileri Merkezi (TFTAK) ile sıkı bir iş birliği içinde geliştirilmektedir. Bize yemeklerin malzemelerini ve tatlarını dengelemekte, ayrıca ürünlerimizin raf ömrü analizlerinde yardımcı olmaktadırlar. GELİŞİM HER GÜN Her gün ürünlerimizi geliştiriyor ve yeni kapsamlı çözümler tasarlıyoruz; bu süreçte Gıda Bilimi Merkezi'nin üyeleri, farklı ülkelerden Özel Kuvvetler ve açık hava sektörünün en iyi oyuncularını dahil ediyoruz.
Ölçüm Mikroskobu MS1

Ölçüm Mikroskobu MS1

Değerli, taşınabilir ölçüm mikroskobu, entegre koaksiyel ve açısal aydınlatma ile. • Sabit, anodize alüminyum gövde • Dişli halka ve ince dişli vida ile odaklama • LED veya pil LED lambalı transformatör Büyütmeler: 20x'ten 800x'e Görüş alanları: 8.9 mm'den 0.35 mm'ye Ölçüm aralığı: Z 8 mm
KROM SCHRODER SIZDIRMA KONTROL CİHAZI 115V - KOD 84 76 58 30

KROM SCHRODER SIZDIRMA KONTROL CİHAZI 115V - KOD 84 76 58 30

Referans TC410.1N Ayrıntılı Açıklama KROM SCHRODER SIZDIRMAZLIK KONTROL CİHAZI 115V KOD 84 76 58 30
Nexview™ NX2 - Optik 3D Yüzey Profilometresi

Nexview™ NX2 - Optik 3D Yüzey Profilometresi

Optik 3D profilometre Nexview™ NX2, en zorlu uygulamalar için tasarlanmış olup, yüksek hassasiyet, gelişmiş algoritmalar, uygulama esnekliği ve otomasyonu tek bir paket içinde birleştirerek ZYGO'nun en ileri düzey tarayıcı beyaz ışık interferometresi (CSI) profilometresidir. Bu tamamen temassız teknoloji, tüm büyütmelerde aynı alt nanometre hassasiyetini sağlayarak kârlılığı optimize eder ve daha geniş bir yüzey yelpazesini diğer benzer ticari olarak temin edilebilen teknolojilerden daha hızlı ve daha hassas bir şekilde ölçer. Düzlük, pürüzlülük, dalgalanma, ince filmler, basamak yükseklikleri gibi çeşitli uygulamalarla Nexview NX2, pratikte her yüzey ve her malzeme için taviz vermeyen bir profilometredir. 1,9 MP geniş alan Yüksek hızlı ölçümler Otomatik parça odaklama ve ayarlama Ölçüm ortalaması performansı Titreşimlere dayanıklı ölçüm teknolojisi
Di-Li 975 El Mikroskobu Monitörlü Di-Li® Video Lite

Di-Li 975 El Mikroskobu Monitörlü Di-Li® Video Lite

Evrensel video el mikroskobu Di-Li 975, nesneleri ekranda herhangi bir gecikme olmadan gerçek zamanlı olarak gösterir. Bilgisayar gerekmez.
K-ONE Parmak İzi Görüntüleyici

K-ONE Parmak İzi Görüntüleyici

K-ONE görsel sistemi, özel bir aletle daha önce üretilmiş Brinell ve Vickers izlerinin görüntülenmesini sağlayan bir aksesuardır. Sezgisel ve ergonomik olan K-ONE probu, hem solak hem de sağ elini kullanan kişiler tarafından kullanılmak üzere tasarlanmıştır. Ölçüm yapılırken elin desteklenmesini sağlayan rahat bir tutma yeri sunar. Prob, USB bağlantısı sayesinde, kullanıcının ayarladığı konfigürasyona göre otomatik, basit ve hızlı bir şekilde sertlik değerini belirleyebilen son teknoloji bir tabletle birleştirilebilir ve yapılan testlerin istatistik verilerini kontrol edebilir. K-ONE, entegre optik iz okuma özelliği bulunmayan aletlerle de birleştirilebilir.