Leica EM TIC 3X

Leica EM TIC 3X

Üçlü iyon ışını aşındırma sistemi Leica EM TIC 3X, taramalı elektron mikroskobu (SEM), mikro yapı analizi (EDS, WDS, Auger, EBSD) ve AFM incelemeleri için kesitler ve düz yüzeyler oluşturmayı sağlar. Leica EM TIC 3X ile, oda sıcaklığında veya donmuş örneklerden neredeyse her malzemeden yüksek kaliteli yüzeyler üretebilir, böylece iç yapılar mümkün olduğunca orijinal durumda korunur.

europages uygulaması burada!

Gelişmiş sağlayıcı arama aracımızı kullanın veya alıcılar için yeni europages uygulamasıyla hareket halindeyken sorularınızı oluşturun.

App Store'dan indir

App StoreGoogle Play